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Fakultät Bio- und Chemieingenieurwesen
Raster-Kraft-Mikroskop (AFM)

Veeco Dimension ICON SPM

Das Veeco Dimension Icon ist ein Rasterkraftmikroskopie, das die optische und mechanische Charakterisierung von Probenoberflächen ermöglicht. Dazu wird die Probenoberflächen mit einer mikroskopischen Spitze (Spitzenrradius ~10-50 nm), die an einem Federbalken bekannter Federkonstante befestigt ist, abgerastert.  Zur Bildgebung werden repulsive und attraktive Wechselwirkungen zwischen der Probenoberfläche un der Sondenspitze genutzt.  

Spezifikationen

Tapping Mode
Friction Mode
Peakforce QMN
Temperaturbereich -35 – 250 °C
beheizbare Spitze
Inertgasspülung

© F. Katzenberg